为推动高空间分辨率成像质谱技术在地球科学领域的深入应用，2025年5月27日，应兰州大学泛第三极环境中心刘勇勤教授和迟鸿飞博士邀请，中国地质大学（武汉）仇鑫程博士进行了题为“NanoSIMS在地学中的应用”的专题讲座。讲座由迟鸿飞博士主持，采用线下线上结合的方式进行。来自地质学、环境科学、地球化学等多个方向的师生积极参与，现场气氛热烈。

仇鑫程博士围绕NanoSIMS（纳米级二次离子质谱）技术在地学中的前沿应用与技术要点展开详细介绍。

NanoSIMS50L是目前国际上空间分辨率最高、同位素灵敏度最强的二次离子质谱仪之一，具备优于50纳米的成像能力与多元素、多同位素同时检测功能。讲座指出，NanoSIMS为地学研究带来了革命性突破，特别适用于：

原位同位素微区分析：分析陨石、锆石、磷灰石等微矿物中的稀有同位素分布，重建早期地球和太阳系演化历史；

生物成因矿物结构研究：识别早期生物活动遗迹与沉积记录，提升对地球早期生命证据的判定精度；

多相矿物界面元素迁移：揭示金属矿床形成过程中不同矿物相间的微区元素交换过程；

土壤-矿物有机质相互作用：解析矿物表面有机碳稳定机制，服务于碳循环与土壤碳汇研究；

稳定同位素标记实验：借助¹³C、¹⁵N、³⁴S等标记实验，实现养分迁移和微生物过程的原位追踪。

仇老师还系统介绍了NanoSIMS样品制备的关键流程，包括样品导电处理、超薄切片、抛光与包埋、金属镀膜及防污染技术，并结合多个实际案例展示了地球科学中制样难点及解决方案。在互动环节，与会师生就“微区元素分析”、“矿物样品制备”等问题踊跃提问，主讲人逐一解答，现场讨论深入且富有启发。此次讲座不仅加深了师生对NanoSIMS技术的认识，也为未来多学科交叉合作、精细地学研究方法的拓展提供了重要启示，推动先进微区技术在地学领域的融合创新。